LCP-27 विवर्तन तीव्रतेचे मापन
प्रयोग
१. एकल स्लिट, बहु स्लिट, सच्छिद्र आणि बहु आयताकृती विवर्तनाची चाचणी, विवर्तन तीव्रतेचा नियम प्रायोगिक परिस्थितीनुसार बदलतो.
२. सिंगल स्लिटची सापेक्ष तीव्रता आणि तीव्रता वितरण रेकॉर्ड करण्यासाठी संगणकाचा वापर केला जातो आणि सिंगल स्लिट डिफ्रॅक्शनची रुंदी सिंगल स्लिटची रुंदी मोजण्यासाठी वापरली जाते.
३. अनेक अंतर, आयताकृती छिद्रे आणि वर्तुळाकार छिद्रांच्या विवर्तनाच्या तीव्रतेचे वितरण निरीक्षण करणे
४. एका अंतराच्या फ्रॉनहोफर विवर्तनाचे निरीक्षण करणे
५. प्रकाशाच्या तीव्रतेचे वितरण निश्चित करणे
तपशील
आयटम | तपशील |
हे-ने लेसर | >१.५ मेगावॅट @ ६३२.८ नॅनोमीटर |
सिंगल-स्लिट | ०.०१ मिमी अचूकतेसह ० ~ २ मिमी (समायोज्य) |
प्रतिमा मापन श्रेणी | ०.०३ मिमी स्लिट रुंदी, ०.०६ मिमी स्लिट स्पेसिंग |
प्रोजेक्टिव्ह रेफरन्स ग्रेटिंग | ०.०३ मिमी स्लिट रुंदी, ०.०६ मिमी स्लिट स्पेसिंग |
सीसीडी सिस्टम | ०.०३ मिमी स्लिट रुंदी, ०.०६ मिमी स्लिट स्पेसिंग |
मॅक्रो लेन्स | सिलिकॉन फोटोसेल |
एसी पॉवर व्होल्टेज | २०० मिमी |
मापन अचूकता | ± ०.०१ मिमी |
तुमचा संदेश येथे लिहा आणि आम्हाला पाठवा.