LCP-27 विवर्तन तीव्रतेचे मापन
प्रयोग
१. एकल स्लिट, बहु स्लिट, सच्छिद्र आणि बहु आयताकृती विवर्तनाची चाचणी, प्रायोगिक परिस्थितीनुसार विवर्तन तीव्रतेच्या नियमात बदल होतो.
2. संगणकाचा वापर करून एकल स्लिटची सापेक्ष तीव्रता आणि तीव्रता वितरण नोंदवले जाते आणि एकल स्लिट विवर्तनाच्या रुंदीचा वापर करून एकल स्लिटची रुंदी मोजली जाते.
३. अनेक फटी, आयताकृती छिद्रे आणि वर्तुळाकार छिद्रे यांच्या विवर्तनाच्या तीव्रता वितरणाचे निरीक्षण करणे.
४. एकल फटीच्या फ्रॉनहोफर विवर्तनाचे निरीक्षण करणे
५. प्रकाशाच्या तीव्रतेचे वितरण निश्चित करणे
तपशील
| वस्तू | तपशील |
| ही-एन लेझर | १.५ मिलिवॅट @ ६३२.८ नॅनोमीटर |
| एकल-स्लिट | ० ~ २ मिमी (समायोज्य), ०.०१ मिमी अचूकतेसह |
| प्रतिमा मापन श्रेणी | ०.०३ मिमी फटीची रुंदी, ०.०६ मिमी फटींमधील अंतर |
| प्रोजेक्टिव्ह रेफरन्स ग्रेटिंग | ०.०३ मिमी फटीची रुंदी, ०.०६ मिमी फटींमधील अंतर |
| सीसीडी प्रणाली | ०.०३ मिमी फटीची रुंदी, ०.०६ मिमी फटींमधील अंतर |
| मॅक्रो लेन्स | सिलिकॉन फोटोसेल |
| एसी पॉवर व्होल्टेज | २०० मिमी |
| मापन अचूकता | ± ०.०१ मिमी |
तुमचा संदेश येथे लिहा आणि आम्हाला पाठवा.









